
Quels défauts peuvent être détectés lors des tests TIC ?
Votre assemblage de circuit imprimé vient de tomber en panne. Trouver la cause du problème est crucial, mais sonder manuellement une carte dense est lent et frustrant. Vous avez besoin d'un moyen rapide et fiable pour identifier les défauts de fabrication avant qu'ils ne compromettent votre projet.











